[新品] 電阻率測試儀測試探頭

u<1> 渦流法電阻率分析儀（晶錠和晶片），應用于半導體Wafer及Ingot的電阻率分析； u<2> 渦流法電阻率探頭（晶錠和晶片），應用于光伏、太陽能Si片的檢測； u<3> SPV法PN探頭，應用于光伏、太陽能Si片的檢測； u<4> 電容法厚度探頭，應用于Wafer的厚度測量，分辨率0.1μm； u<5> 遷移率（霍爾）測試儀，應用于載流子遷移率及載流子濃度的測量； u<6> JPV法薄膜方阻探頭及分析系統，應用于電池片方阻測量； u<7> 半自動Wafer電阻率、厚度、PN、溫度分析系統（解決樣片翹曲度影響）。